兰泰涂层测厚校准方法

发布时间:2017/10/31 8:44:00

5. 仪器校准
5.1 校零

5.1.1 将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测
量体上),再轻按一下校零键ZERO进行校 零。
需要注意的是,在按ZERO键时,测量 探头一定
要 压 紧 在 铁 基 上,而 且 不 要 晃 动 。 若 按 校 零 键
ZERO时,探头未压紧在零板(基块)上,则是显示
器清零,而不是校零。
5.1.2 将测量探头提起1厘米以上,然后再将探头压
放铁基上(或不带涂层的测量体上),观察铁基上的
测量值,若测量值在0附近,说明校零成功,否
则,应重新校零。
5.2 校满度
5.2.1 根据要测量的涂层厚度,选择适当的标 准膜
片,进行满度校准。
5.2.2 先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量
体上)。
5.2.3 再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显
示在显示器上,若测量值与标准膜片不同,测
量值可通过加1键或减1键来修正。修正时, 测量
探头应远离铁基或测量体至少2厘米。
5.2.4 为保证校满度的准确性,可通过多次测量同
一标准膜片上同一点来验证。