GDS-80晶振测试仪技术参数

发布时间:2017/2/1 10:16:00

 

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80

                                              GDS-80截图(小).jpg

一、产品简介

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80是高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz,附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。

晶振测试仪/晶体阻抗计GDS-80采用π型网络零相位法实现等测量。它测量高,速度快;具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量,可保存5个不同晶振频率和负载电容参数,负载电容在2-20P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。

 

 

 

      

二、主要技术指标    

1.      中心频率范围: 20KHz-100MHz任意设定   

2.      负载电容:4-20P 任意设定

3.      负载谐振电阻:1Ω-300Ω  1K-300K

4.      PPm范围测量:±300ppm

5.      PPm测量:< 0.5ppm

6.      时基频率:16.384M    

7.      晶振稳定性:2×10-8 /  

8.      体积:80×235×305mm

9.      保修期:三年

三、特点

1.      阻抗值、ppm同时显示

2.      无需人工校对,直接测试多种参数

3.      新技术,符合IEC-444标准,满足国人需求,可替代进口设备

4.      LCD显示 

5.      PPm超标提示功能

6.      标配串口线与电脑通信  

四、仪器配置 

1.      GDS-80晶振测试仪/晶体阻抗计1

2.      电源线 1 

3.      保修卡一张

4.      说明书 1