技术资料
JD-2003激光测厚系统
发布时间：2014/7/14 8:24:00JD-2003激光测厚系统
JD-2003激光测厚系统在工业生产中的非接触、在线测量中，对于提高产品的质量、生产效率及安全保障等方面均发挥着非常重要的作用。JD-2003激光测厚系统可以完成许多用接触式测量手段无法完成的检测任务。经过多年的科技攻关研发出各种测量系统。
JD-2003激光测厚系统在膜厚测量上的应用
JD-2003激光测厚系统的优点：高，不受被测物的材料、质地、型状、反射率的限制。从白色到黑色，从金属到陶瓷、塑料都可以测量。
激光测厚仪，
JD-2003激光测厚系统技术参数
|
测量范围 |
< 3mm |
|
分辨率 |
0.001mm |
|
|
±0.003mm |
|
光源波长 |
0.65mm |
|
光针直径 |
~200mm |
|
测量速度（曝光时间） |
0.0001秒 |
|
工作温度 |
0~40℃ |
|
激光防护等级 |
3B |
|
电源电压 |
220v |
