半导体高低温试验箱型号与参数

　　型号          工作尺寸         外型尺寸cm

　　TH－100       40×50×40       120×165×115

　　TH－150       50×60×50       130×170×125

　　TH-225         60×75×50         140×185×130

　　TH-408         60×85×80         165×195×155

　　TH-800     100×100×80      185×200×175

　　TH-1000       100×100×100     190×210×185

　　温度范围：（A：+25℃；B：0℃；C：-20℃；D：-40℃；E：-60℃；F：-70℃）高温:100℃(150℃)

　　箱体结构：

　　箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。

　　箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。

　　大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

　　配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用

　　也可按客户需要定制非标试验箱，

　　温度波动度：±0.5℃

　　温度偏差：  ≤±2℃

　　湿度范围：30～98% R＆#8226;H

　　湿度偏差：+2～-3% R＆#8226;H

　　升降温平均速率：0.7℃～1.0℃/min

　　时间设定范围：   0～9999小时

　　电源要求：AC380V

　　符合标准

　　试验箱具有较宽的温湿度调节控制范围，可满足国家标准本产品满足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等国家标准《电工电子产品基本环境试验规程》A：低温试验方法，试验B：高温试验方法，试验Ca：恒定湿热试验方法，试验Db：交变湿热试验方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96国家标准制造件，并可按军标试验要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非标准制作各种高低温环境试验。并等效满足GJB150.9-86等相应的国标、军标；也可按客户的要求制造非标准产品。

　　送货上门，并安装调试操作介绍（直到需方员工独立操作并满意为止）