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LWF-200涂层测厚仪新增功能
发布时间:2015/4/15 14:32:00
5)基本校准的修正:
在下述情况下,改变基本校准是有必要的:
----测头顶端被磨损。
----新换的测头。
----特殊的用途。
在测量中,如果误差明显地超出给定范围,则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入6个校准值(1个零和5个厚度值),可重新校准测头。
a)在仪器关闭的状态下按住▼键再按ON键,先松开ON键再松开▼直到屏幕出现CAL并闪烁显示0.0um,即进入基本校准状态;
b)先校准零值。屏幕闪烁显示0.0um,测一下没有任何涂层的基体,然后按ZERO键,屏幕0.0um不再闪烁;
c)校仪器自带校准片,把50um的放在基体上,测一下,50um的厚度,测出来的数与校准片的值不符按▲ ▼调整到与校准片的值一样,(如:50um测出来是54um按▼调整到50um)然后按um/mil确认输入的值,屏幕数字不再闪烁,这时拿开50um,放100um校准片,方法同上,依次校准仪器自带的5个膜片,(50、100、250、500、1000um)
d)使用校准片,按厚度增加的顺序,一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上,理想的情况
是2倍。例如:50、100、500、1000um.值应该接近但低于测头的测量范围;
注意:每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上,否则视为基本校准失败,后面一个点必须大于500um
e)在输入6个校准值以后,测量一下没有涂层的基体,仪器自动关闭,新的校准值已存入仪器。当再次开机时,仪器将按新的校准值工作。