反射率检测仪
反射率检测仪是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
参数
型号Sphere-3000（I型）Sphere-3000（II型）Sphere-3000（III型）检测范围380~800nm380~1000nm380~1100nm波长分辨率1nm1nm1nm相对检测误差﹤1%﹤1%﹤0.5%测定方法与标准物比较测定被测物再现性±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~800nm)±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1000nm)±0.1%以下
(2σ)（380nm~410nm）
±0.05%以下
(2σ)(410nm~1100nm)单次测量时间﹤1s精度0.3nm被测物N.A.0.12(使用10×对物镜时)
0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸直径>1mm
厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)被测物
测定范围约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时)设备重量约15kg（光源内置）设备尺寸300(W)×550(D)×570(H)mm使用环境水平且无振动的场所
温度：23±5℃；湿度：60%以下、无结露，操作系统Windows XP, Windows Vista，Win7软件分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜折射率（有干涉条纹）测定
特点
物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等 高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率。