X射线晶体分析仪
X射线晶体分析仪
X射线晶体分析仪利用背射劳厄照相，底片安装在晶体与射线源之间，而入射光束则在底片上的小孔通过，所记录的为向后方向上的衍射光束，用衍射光束的方向来测量未知晶体单位晶胞的的形状和大小，以测定晶体的取向和评定晶体的完善性。
参数
电 源 | AC220V 50HZ 30A |
功 率 | 2KW |
靶 材 | Cu |
管电压 | 50KV （连续可调） |
管电流 | 50mA （连续可调） |
制 冷 | 循环水、制冷水箱 |
防 护 | 铅有机玻璃防护罩 |
照 相 | |
相 机 | 背反射劳厄相机 |
照相方式 | 自动定时（倒计时） |
定时时间 | （ 1 秒～ 9999 秒） |
定 向 | |
方 式 | 高精度（前置单色器） |
测角范围 | θ 10 °～ 50 °、 2 θ 10 °～ 100 ° |
显示器 | 数字显示，度、分、秒 |
显示精度 | 1 ″ |
光 闸 | 脚踏电磁光闸 |
分辨率 | ± 15 ″（优于） |
用途
对晶体材料进行精确测角定向，利用X射线通过前置单色器，衍射线被单色化后照射到样品上，符合公式nλ=2dsinθ时产生衍射，被计数管接收放大，通过表显示强度，测角仪读出准确角度值。