PCT老化实验测试箱
PCT老化实验测试箱（又名PCT老化试验箱）用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，PCT用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、制药、化工、多层线路板、光伏组件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等等行业相关之产品作加速老化寿命试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。
设备特点
1、采用进口品牌配件,整机2年免费保修.
2、PCT优化设计,美观大方,做工细节优良.
3、大容量水箱,试验时间长,全自动补水,试验不中断.
4、进口“SHIMAX”LED双数显高精度自能温控器,误差±0.1℃，或根据试验需要可采用真彩触摸屏控制器.
5、一体成型硅胶门垫圈,气密度良好,且使用寿命长.
6、电路整合设计,操作简单,维护方便.
产品参数
型号L:PCT-250、PCT-350、PCT-450、PCT-550、PCT-250?M、PCT-350?M
控制器:微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器
分辨率:温度：0.1压力：指针式0.1
控制稳定度:温度：±0.5℃，湿度：100%
内箱材质:SUS316#不锈钢
外箱材质:钢板烤漆或不锈钢（依客户选择）
尺寸（cm）
内箱:Φ25×D35??Φ30×D45??Φ40×D55??Φ50×D60??Φ25×D35??Φ30×D45
外箱:W56×H65×D105???W66×H105×D125??W76×H115×D135??W860×H135×D145?W56×H65×D105???W66×H105×D125
?温度范围:110℃～132℃???110℃～147℃
?湿度范围:100%RH饱和蒸气?
压力范围:表压力+0.2～2.0kg/cm2??表压力+0.2～3.5kg/cm2
加压时间:大约45分钟???大约55分钟
循环方式:水蒸气自然对流循环
安全保护:感温器检测保护，阶段高温保护，阶段高压保护，箱门压力限制，水箱缺水报警断电，温度加热器保护，湿度加湿器保护，第二阶段高温保护，第二阶段高压保护，第三阶段紧急泄压保护，，手动泄压保护，自动泄压等。
规范要求
1、箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2、配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。