数显测高仪
数显测高仪是以光栅、容栅或磁栅作为测量元件的立式单坐标数字化几何量计量仪器。
技术要求
3 外观
3.1 要求
3.1.1 仪器工作面不应有锈迹、碰伤、毛刺及划痕等缺陷，仪器非工作面不应有涂镀
层脱落及生锈等疵病。钢带应平整、光滑，不应有皱摺。
3.1.2 铭牌上应有制造厂名(或厂标)和出厂编号等标志。
3.1.3 标志、刻字和刻线应正确和清晰口
3.1.4 使用中和修理后的仪器，允许有不影响仪器使用功能和准确度的上述缺陷。
3.2 检定方法:目力观察。
4 各部分相互作用及一般性能
4.1 要求
4.1.1 运动部分应灵活、平稳、无卡滞现象，止动可靠。
4.1.2 启动气泵后，在光滑平板上移动仪器应轻松自如。
4.1.3 电气部分的开关、按键应灵敏可靠，指示灯和显示单元应工作正常。
检定项目
1 数显测高仪的受检项目和检定用主要器具见表to
2 检定条件
检定 数 显 测高仪的室内温度:0级为(20士1)'C, 1 级和2级为(20士2)'C; 温度
变化每小时应不超过0.5℃;被检仪器和检定用主要器具在室内平衡温度的时间应不少
于12h。检定室内应避免影响工作的振动等各种干扰。
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JJG 929-1995
序号受检项目检定用主要器具
检定类别
新制的修理后使用中
1 外观+ + +
2 各部分相互作用及一般性能+ + +
3 测力分度值攫0.5 N的测力计+ +
4 仪器的垂直度测微仪，00级平板，00级直角尺+ + +
5 重复性量块+ 十+
6 示值误差
00级平板，三等或四等量块(或
双频激光干涉仪)
+ + +
7 抗电干扰能力+ 十十
注:表中“+”表示应检定，“一”表示可不检定。
概述
用来测量平行平面之间距离、孔轴直径、中心距及形位误差等，其结构示意图如图1所示。量程有500 mm, 800 mm和1 000 mm等规格，仪器分为0级、1级和2级。
栅尺
立柱与导轨
测量滑座
触头
底座