薄膜厚度测量仪
薄膜厚度测量仪适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。
技术特征
1.微电脑控制、液晶显示
2.接触式测量
3.测头自动升降
4.手动、自动双重测量模式
5.数据实时显示、自动统计、打印
6.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
7.标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块标定
8.微型打印机
9.RS232接口
10.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
应用领域
薄膜厚度测量仪的应用几乎遍及各个行业，尤其在以下领域表现尤为突出：
1. 半导体工业
随着集成电路技术的进步，薄膜的厚度控制对芯片性能至关重要。薄膜厚度测量仪能在制造过程中实时监控和调整薄膜厚度，确保产品质量。
2. 光学设备
光学薄膜的制造涉及到对光的反射和透射特性的精确控制，因此，光学薄膜厚度测量仪在此领域具有重要的意义。
3. 太阳能电池
在太阳能电池的生产中，薄膜的厚度直接影响到电池的效率。高性能的测量仪器可以帮助制造商提高转化效率，提升市场竞争力。
4. 涂层技术
在空气和液体的涂层技术中，薄膜厚度的均匀性和稳定性关系到产品的耐久性。测量仪器能确保涂层均匀，提升最终产品的使用寿命。
工作原理
仪器发出不同波长的光波穿透样品膜层，膜的上下表面反射光被仪器接收，反射光相互之间的相位差增强或减弱。
相位差为波长整数倍时，产生建设性叠加，此时反射率最大；
相位差为半波长时，出现破坏性叠加，反射率最低；
整数倍与半波长之的叠加，反射率介于最大与最小反射之间。
这一相位差的变化，取决于薄膜的厚度d和折射率n已知材料的光学参数 (n,k) 值，可以推导出这一光学系统的反射率R(λ,d,n,k)。
当在设备中给光学参数 (n,k) 赋值，可以计算得反射率R，使其与设备测得反射率R'，进行比对通过强算法计算，当反射率曲线R与实测反射率R'曲线完美拟合时，通过解析干涉图形，即可求得薄膜的厚度d。
技术指标
1.测量范围：0~2mm；0~6mm，12mm（可选）
2.测量速度：10次/min（可调）
3.测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
4.接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
5.电 源：AC 220V 50Hz
6.外形尺寸：300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)
7.净 重：33kg